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AFM probe tips for scanning probe microscopy - silicon mems - Team Nanotec
AFM probe tips for scanning probe microscopy - silicon mems - Team Nanotec
Advanced AFM probe tips, characterizers, 3-D silicon based MEMS components: developed manufactured by Team Nanotec , micro- nanofabrication technology.
http://www.team-nanotec.de
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Aufgenommen am: Fre , 04.Jul 2003. Link geändert am: Sam , 05.Jul 2003
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